装置詳細

超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS)

超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS)IMG
名称 超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS)
メーカー 産総研独自開発
課金額 21,000/時間(成果公開/技術代行の場合)
※課金係数1でご利用の場合
導入年月日 2011/07/01(金)
仕様 エネルギー分散超伝導検出器を搭載し、母材中の微量軽元素や重い元素のL, M線のX線吸収微細構造測定により、特定の微量元素の原子スケール構造解析を行う。米ALSに同様の装置があるのみ。省エネ半導体ドーパント、酸化物、磁性体などの原子配位や電子状態を評価。
・蛍光X線エネルギー分解能: 10 eV
・エネルギー範囲:100 eV - 15 keV (1 keV以下は超伝導、以上は半導体)
・光子計数率: 1 Mcps
・液体ヘリウムを使用せず自動冷却(0.3 K)
※原則として「技術代行」または「技術補助」でのご利用となります。「機器利用」については装置担当者とご相談下さい。
備考 この装置のご利用に関するお問い合わせは
ancf-contact-ml(@)aist.go.jp
までお願い致します。

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