装置詳細

【NPF046】走査プローブ顕微鏡SPM1[NanoscopeⅣ_Dimension3100]

【NPF046】走査プローブ顕微鏡SPM1[NanoscopeⅣ_Dimension3100]IMG
名称 【NPF046】走査プローブ顕微鏡SPM1[NanoscopeⅣ_Dimension3100]
メーカー Veeco
課金額 2018年度単価表
導入年月日  
仕様 この装置では、原子間力顕微鏡(AFM)、磁気力顕微鏡(MFM)測定が可能です。AFMは、基板表面をプローブ探針で走査することにより、表面にある凹凸の変位をピエゾ素子で表面形状の変化として測定します。試料の電気伝導性は絶縁体、半導体、良導体に依らず計測が可能で、計測面範囲は90 μm×90 μmで、高さは6 μm以内です。MFMは探針と試料との間に働く磁気力を検出して、表面の磁気的特性を調べる事ができます。
●型式:DI 3100
●試料寸法:150 mm以内(面範囲)、12 mm(高さ範囲)
●試料固定:真空固定、測定範囲:90 μm×90 μm(面範囲)、6 μm以内(高さ範囲)
●測定精度:最大2 %(最大レンジ幅)

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