ナノプラ

平成29年度実践セミナー 『光ナノ計測実践セミナーⅡ』

last updated 2016.9.30
開催日・場所・参加費・定員

【日時】2017年5月30日(火)12:55-17:20

【場所】産業技術総合研究所 つくば中央第2事業所 2−12棟 第6会議室

【参加費】無料

【定員】90名(先着順、参加登録をお願い致します)

講演

12:55−13:00 はじめに

産総研 共用施設ステーション 多田哲也

13:00-13:50 「超解像光学顕微鏡をもちいた生物試料の数十nm精度での観察技術」

▼講演概要

産総研 バイオメディカル研究部門 加藤 薫

13:50-14:20 「バイオイメージングにおける超解像顕微鏡の原理と応用」

▼講演概要

(株)ニコン 今井 健太

14:20-14:40 「ナノプロセシング施設に於けるレーザー顕微鏡と走査プローブ顕微鏡」

▼講演概要

産総研 ナノプロセシング施設 山崎将嗣

14:40-15:00 休憩(オーサーズ・インタビュー)

15:00-15:30 「レーザー顕微鏡及びAFMを用いた表面性状評価」

▼講演概要

オリンパス(株) 牛丸 元春

15:30-16:00 「白色コンフォーカル顕微鏡を用いたナノ計測」

▼講演概要

レーザーテック(株) 小堀 亮

16:00-16:30 「空間分可能10nmを可能にするAFM-IR赤外分光分析スペクトロスコピーの現状」

▼講演概要

(株)日本サーマルコンサルティング 浦山憲雄 

16:30-17:00 「周波数変調AFMによる潤滑界面の顕微測定」

▼講演概要

(株)島津製作所 粉川 良平

17:00-17:20 オーサーズ・インタビュー